1. Dull Traws-Adran Microsgopig
Trwy dorri a chaboli trawstoriad sampl, mae'r trwch platio yn cael ei fesur yn uniongyrchol gan ddefnyddio microsgop (cywirdeb hyd at ± 1μm), sy'n addas ar gyfer amgylcheddau labordy.
2. Dull Fflworoleuedd pelydr-X (XRF).
Mesuriad nad yw'n ddinistriol, gan ddefnyddio pelydrau X i gyffroi'r elfennau platio a dadansoddi dwyster y gwanhad. Mae cywirdeb uchel (±0.1μm), yn gofyn am raddnodi â samplau safonol.
3. Dull Diddymu Coulometrig
Yn diddymu'r haen platio yn electrolytig, gan gyfrifo'r trwch yn seiliedig ar faint o drydan. Yn gallu mesur platio aml-haen (fel systemau copr/nicel/cromiwm), cywirdeb ±5%.
4. Dull Magnetig/Dull Cyfredol Eddy
Yn addas ar gyfer platio crôm ar swbstrad haearn. Yn mesur trwch trwy newidiadau mewn fflwcs magnetig neu gerhyntau trolif. Yn gludadwy ond yn cael ei effeithio'n sylweddol gan y deunydd swbstrad.
5. Dull Diddymu Cemegol
Dull defnyn wedi'i Amseru: Yn hydoddi'r haen blatio ag asid hydroclorig, gan gofnodi'r amser i gyfrifo'r trwch (dim ond ar gyfer haenau tenau<1.2μm, error ±15%).
Diddymu a Dull Pwyso: Yn pwyso'r sampl ar ôl diddymu cemegol i gyfrifo'r trwch, mae angen osgoi ymyrraeth swbstrad.
6. Dull Profilometer
Yn ffurfio cam trwy hydoddi neu guddio'r swbstrad, gan fesur uchder y cam. Yn addas ar gyfer arwynebau afreolaidd.
Argymhellion Dethol
Gofynion cywirdeb uchel: Rhoi blaenoriaeth i ddull fflworoleuedd pelydr-X neu ddull trawstoriad microsgopig.
Profi cyflym ar-safle: Mesurydd trwch cerrynt magnetig/eddy.
Platio aml-haen: Dull diddymu coulometrig.
